Strukturfaktor, talstørrelse, som ved elastisk diffraktion af fx røntgen- eller neutronstråling fra et krystalgitter beskriver interferensen af den reflekterede stråling fra de atomer, der udgør enhedscellen i gitteret. Interferensen resulterer i ændringer af intensiteten af de enkelte toppe i diffraktionsmønsteret. Mens måling af positionen af toppene bestemmer gitterstrukturen, giver en måling af intensiteterne og dermed bestemmelse af strukturfaktoren oplysninger om placeringen af atomerne inden for enhedscellen.